Visuaalse kontrolli tehnoloogiana peab kujutise mõõtmise tehnoloogia teostama kvantitatiivset mõõtmist.Mõõtmistäpsus on alati olnud selle tehnoloogia oluline näitaja.Kujutise mõõtmissüsteemid kasutavad tavaliselt pildianduri seadmeid, näiteks CCD-sid, et saada pilditeavet, teisendada need digitaalsignaalideks ja koguda need arvutisse ning seejärel kasutada pilditöötlustehnoloogiat digitaalsete kujutiste signaalide töötlemiseks erinevate vajalike kujutiste saamiseks.Suuruse, kuju ja asukoha vigade arvutamine saavutatakse kalibreerimismeetodite abil, et teisendada kujutise koordinaatsüsteemis oleva kujutise suuruse teave tegeliku suuruse teabeks.
Viimastel aastatel on tänu tööstusliku tootmisvõimsuse kiirele arengule ja töötlemistehnoloogia paranemisele ilmunud suur hulk kahe äärmusliku suurusega, nimelt suure ja väikese suurusega tooteid.Näiteks lennukite välismõõtmete mõõtmine, suurte masinate põhikomponentide mõõtmine, EMU mõõtmine.Mikrokomponentide kriitiliste dimensioonide mõõtmine Trend erinevate seadmete miniaturiseerimisele, kriitiliste mikromõõtmete mõõtmine mikroelektroonikas ja biotehnoloogias jne toovad kõik katsetehnoloogiasse uusi ülesandeid.Kujutise mõõtmise tehnoloogial on laiem mõõtmisulatus.Traditsioonilisi mehaanilisi mõõtmisi on suurtes ja väikestes mõõtkavades üsna raske kasutada.Kujutise mõõtmise tehnoloogia suudab vastavalt täpsusnõuetele toota teatud osa mõõdetavast objektist.Suumige välja või suurendage mõõtmistoimingute sooritamiseks, mis pole mehaaniliste mõõtmiste korral võimalik.Seetõttu on kujutise mõõtmise tehnoloogia oluline roll ilmne, olgu see siis ülisuur mõõtmine või väikesemahuline mõõtmine.
Üldiselt nimetame mikroosadeks osi, mille suurus on vahemikus 0,1–10 mm, ja neid osi määratletakse rahvusvaheliselt mesoskaalaosadena.Nende komponentide täpsusnõuded on suhteliselt kõrged, üldiselt mikronite tasemel, ja struktuur on keeruline ning traditsiooniliste tuvastamismeetodite mõõtmisvajadusi on raske täita.Pildimõõtmissüsteemid on muutunud tavaliseks meetodiks mikrokomponentide mõõtmisel.Esiteks peame pildistama testitava osa (või testitava osa põhiomadused) läbi sobiva pildianduri piisava suurendusega optilise läätse.Hankige nõuetele vastav mõõteobjekti infot sisaldav pilt ja koguge pilt pildihõivekaardi kaudu arvutisse ning seejärel teostage mõõtmistulemuse saamiseks läbi arvuti kujutise töötlemine ja arvutamine.
Pildimõõtmistehnoloogial mikroosade valdkonnas on peamiselt järgmised arengusuunad: 1. Mõõtmistäpsuse edasine parandamine.Tööstusliku taseme pideva täiustamisega paranevad veelgi pisidetailide täpsusnõuded, parandades seeläbi pildimõõtmistehnoloogia mõõtmistäpsuse täpsust.Samas loovad kõrge eraldusvõimega seadmed koos pildisensorseadmete kiire arenguga tingimused ka süsteemi täpsuse parandamiseks.Lisaks pakuvad subpikslitehnoloogia ja ülieraldusvõimega tehnoloogia edasised uuringud tehnilist tuge ka süsteemi täpsuse parandamiseks.
2. Mõõtmise tõhususe parandamine.Mikroosade kasutamine tööstuses kasvab geomeetrilisel tasandil, 100% in-line mõõtmis- ja tootmismudelite rasked mõõtmisülesanded nõuavad tõhusat mõõtmist.Riistvaraliste võimaluste, nagu arvutid, täiustamisega ja pilditöötlusalgoritmide pideva optimeerimisega paraneb pildimõõteriistade süsteemide efektiivsus.
3. Teostage mikrokomponendi muundamine punktmõõtmisrežiimist üldiseks mõõtmisrežiimiks.Olemasolev kujutise mõõteseadme tehnoloogia on piiratud mõõtmistäpsusega ja põhimõtteliselt kujutab põhifunktsiooni ala väikeses komponendis, et realiseerida põhipunkti mõõtmine, ja kogu kontuuri või kogu tunnust on raske mõõta. punkt.
Mõõtmistäpsuse paranemisega kasutatakse detailist tervikliku pildi saamist ja üldkujuvea ülitäpse mõõtmise saavutamist üha enamates valdkondades.
Lühidalt, mikrokomponentide mõõtmise valdkonnas muutub ülitäpse pildimõõtmise tehnoloogia kõrge efektiivsus paratamatult täppismõõtmistehnoloogia oluliseks arengusuunaks.Seetõttu on kujutise hankimise riistvarasüsteem saavutanud kõrgemad nõuded pildikvaliteedile, pildi servade positsioneerimisele, süsteemi kalibreerimisele jne ning sellel on laialdased rakendusväljavaated ja oluline uurimistöö.Seetõttu on sellest tehnoloogiast saanud kodu- ja välismaal uurimistöö leviala ning sellest on saanud üks olulisemaid rakendusi visuaalse kontrolli tehnoloogias.
Postitusaeg: mai-16-2022